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PRODUCT
PILATUS3 R CdTe系列X射线探测器
品牌:DECTRIS
产地:瑞士
型号:PILATUS3 R CdTe
产品详情


1特点

 PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。
      与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子计数,这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
      实验室中的X射线源,尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多,因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号,由于没有暗电流和读出噪音,PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性,例如复位噪声和非线性电荷响应。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的最快计数电子设备?结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围,完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。
       具有挑战性的实验室应用(如电荷密度研究和配对分布函数分析)依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据,PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合,并且是实验室中这些要求的最佳匹配。


2、核心优势
     - Mo,Ag和In量子效率> 90%
     - 直接检测最清晰的空间分辨率
     - 没有读出噪音,也没有黑暗信号达到最高精度
     - 高动态范围
     - 荧光背景抑制
     - 最高的计数率
     - 同步辐射证明的辐射硬度
     - 免维护运行
     - 高可靠性:没有容易发生故障的密封或复杂,冷却至室温以下


 3、应用领域
     - 电荷密度分析
     - 配对功能(PDF)分析
     - 高分辨率化学结晶学
     - 高压/高温XRD
     - 关键尺寸SAXS
     - 计算机断层扫描(CT)

     - 无损检测(NDT)


4、技术参数: 

PILATUS3   R CdTe

300K

300K-W

探测器模块数量

1 × 3

3 x 1

有效面积:宽×高   [mm²]

83.8 × 106.5

253.7 x 33.5

像素大小 [μm²]

172 x 172

总像素数量

487 × 619

1475 × 195

间隙宽度, 水平/垂直(像素)

*每个模块之间水平间隙增加1个像素

- */ 17

7* / -

非灵敏区 [ % ]

5.7

1.1

缺陷像素

< 0.1%

最大帧频 [Hz]

20

读出时间 [ms]

7

点扩散函数

1 pixel(FWHM)

计数器深度

20 bits(1,048,576 counts)

功耗 [W]

30

尺寸(WHD)[mm³]

158 x 193 x 262

280 x 62 x 296

重量 [kg]

7.5

7.0

模块冷却

水冷

外接触发电压

5V TTL


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